奧林巴斯X射線熒光（XRF）礦石分析儀提供高性能的實(shí)時(shí)地球化學(xué)數(shù)據(jù)，用于土壤重金屬，巖石成分和礦石品位和元素含量的分析。奧林巴斯X射線熒光（XRF）礦石分析儀技術(shù)的最新進(jìn)展增加了測(cè)量元素的數(shù)量，提高了檢測(cè)限，并縮短了分析測(cè)試時(shí)間。
Vanta?XRF礦石分析儀可用于金礦的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試，金礦實(shí)驗(yàn)室測(cè)試和精制金礦產(chǎn)品的快速測(cè)量勘探。
優(yōu)點(diǎn)：
1.通過(guò)XRF礦石元素分析儀分析土壤重金屬，巖石和礦石中的元素，快速顯示潛在的Au礦分布情況；
2.通過(guò)使用XRF礦石元素分析儀預(yù)篩選樣品，優(yōu)先樣品選擇，分析預(yù)算和選定鉆孔目標(biāo)；
3.通過(guò)XRF礦石元素分析儀繪制結(jié)構(gòu)特征圖，建模和矢量化，減少稀釋和做好金礦的回收；
4.通過(guò)使用XRF礦石元素分析儀進(jìn)行巖石地球化學(xué)的簡(jiǎn)單和快速巖石類(lèi)型分析。
礦物勘探和礦體矢量的金分析和探測(cè)的便攜式XRF礦石元素分析儀：
礦產(chǎn)類(lèi)型 地球化學(xué)特征
造山金 S, As, CO2, K+/– Sb, Te, Mo, W, Cu, Pb, Zn, Hg
高硫化淺成熱液 Ag, Cu, Te, Mo, Bi, Sn
低硫化淺成低溫?zé)嵋?Zn, Hg, Se, K, As, Sb, Ag/Au
卡林型 As, Sb, Hg, Tl
斑巖銅金 Cu, Pb, Zn, Ag
Au Skarns Bi, Te, As, Co
侵入性相關(guān)金 Bi, W, As, Sb, Mo, Te
VHMS Cu, Pb, Zn, Ag, Ba, K, Mg +/–CO2
氧化鐵 Cu-Au (U) F, P, Co, Ni, As, Mo, Ag, Ba, U, LREE
高純度的金 高純度的 Au +/– 以上任何一種
金礦床的相關(guān)地球化學(xué)特征：
大多數(shù)金礦床都有特定的地球化學(xué)特征。XRF礦石元素分析儀分析儀可以檢測(cè)這些地球化學(xué)特征，使地質(zhì)學(xué)家能夠更好地了解他們工作的地質(zhì)系統(tǒng)。典型的金探測(cè)的伴隨元素包括As，Cu，Pb，Zn，Sb，Bi，Ag和W。
眾所周知，手持式XRF礦石元素分析儀分析儀不支持在地質(zhì)樣品中直接低水平測(cè)量Au（例如，低ppm和ppb）?；趯?shí)驗(yàn)室的火試驗(yàn)技術(shù)通常被認(rèn)為是Au分析的首選方法。Au L級(jí)X射線位于X射線熒光能譜的非常擁擠的區(qū)域中。在該部分光譜中，來(lái)自其他元素（例如，As，Zn，W和Se）的干擾可以產(chǎn)生假陽(yáng)性Au測(cè)定。
通過(guò)XRF礦石元素分析儀直接測(cè)量Au可以在特定情況下實(shí)現(xiàn)，例如高含量的（> 5ppm）石英脈環(huán)境（相對(duì)無(wú)干擾）或精制Au產(chǎn)品（其中Au以非常高的濃度存在）。
因此：越來(lái)越多的Au現(xiàn)場(chǎng)采礦實(shí)驗(yàn)室正在使用XRF礦石元素分析儀代替實(shí)驗(yàn)室的火試驗(yàn)技術(shù)。